場效應晶體管(Field Effect Transistor縮寫(FET))簡稱場效應管。
主要有兩種類型:結型場效應管(junction FET—JFET)和金屬 - 氧化物半導體場效應管(metal-oxide semiconductor FET,簡稱MOS-FET)。由多數載流子參與導電,也稱為單極型晶體管。
它屬于電壓控制型半導體器件。具有輸入電阻高(107~1015Ω)、噪聲小、功耗低、動態范圍大、易于集成、沒有二次擊穿現象、安全工作區域寬等優點,現已成為雙極型晶體管和功率晶體管的強大競爭者。
場效應管(FET)是利用控制輸入回路的電場效應來控制輸出回路電流的一種半導體器件,并以此命名。由于它靠半導體中的多數載流子導電,又稱單極型晶體管。FET 英文為Field Effect Transistor,簡寫成FET。 功率放大器,在音頻放大器和射頻功率放大器中,MOSFET用于提供高功率輸出。質量電子元器件MOSFET價格比較
NMOS和PMOS晶體管
MOS(金屬氧化物半導體)- NMOS(N 溝道 MOS)和 PMOS(P 溝道 MOS) 晶體管在現代電子產品中發揮著重要的作用。這些晶體管為從微處理器到存儲芯片等各種設備提供了基本構件。MOSFET 晶體管**重要的用途是用于超大規模集成電路設計,因為它們體積小。一萬億個 MOSFET 可以制作在一個芯片上。這一發展帶來了技術上的重大進步,使更多的電子元件實現了微型化。
在MOS晶體管領域,主要有兩種類型:N溝道MOS(NMOS)和P溝道MOS(PMOS)晶體管。
NMOS晶體管的特點是源極和漏極區域使用n型(負摻雜)半導體材料,而襯底則由p型(正摻雜)半導體材料制成。當向NMOS晶體管的柵極施加正電壓時,絕緣氧化層上產生的電場會吸引p型襯底中的自由電子,從而在源極和漏極區域之間形成一個n型導電通道。該通道的電導率隨柵極電壓的升高而增加,從而使源極和漏極之間的電流增大。
另一方面,PMOS晶體管的源極和漏極區域采用p型半導體材料,而襯底則由n型半導體材料構成。當在柵極端施加負電壓時,絕緣氧化層上的電場會吸引n型襯底上的空穴,從而在源極和漏極區域之間形成p型導電通道。該溝道的電導率也會隨著柵極電壓的大小而增加,但與NMOS晶體管的電導率增加方向相反。 應用模塊電子元器件MOSFET廠家價格我公司主要從事以MOSFET為主的功率半導體芯片的設計、研發、(代工)生產和銷售工作。
MOS管選型指南
封裝因素考量
封裝方式影響散熱性能和電流承載能力,選擇需考慮系統散熱條件和環境溫度。在構成開關電路時,不同尺寸的MOS管封裝會影響其熱阻和耗散功率。因此,必須綜合考慮系統的散熱條件、環境溫度以及散熱器的形狀和大小限制。基本原則是,在確保功率MOS管的溫升和系統效率不受影響的前提下,選擇參數和封裝更為通用的功率MOS管。在開關電路的設計中,我們常常需要關注MOS管的封裝方式。根據不同的應用需求,可以選擇不同類型的封裝。例如,插入式封裝包括TO-3P、TO-247、TO-220、TO-220F、TO-251和TO-92等;而表面貼裝式封裝則涵蓋TO-263、TO-252、SOP-8、SOT-23和DFN等。選擇哪種封裝方式,需要綜合考慮系統的散熱條件、環境溫度以及散熱器的尺寸限制,以確保功率MOS管能夠穩定、高效地工作。
MOS管有哪些常見的應用領域?
所謂分立器件,顧名思義就是由單個電子器件組成的電路元器件,它包括二極管、橋堆。三極管以及MOS管、IGBT、電源IC等產品,作用包括整流、開關、小信號放大、穩壓、調節電壓電流、電路保護等作用。隨著分立器件技術不斷發展,集成度更高、耐壓耐流能力更強的分立器件產品不斷涌現,市場應用場景也越來越多,在光伏、儲能、新能源汽車、智能家電、智慧安防、AIoT以及通訊、可穿戴設備、工控、醫療等應用廣泛應用。MOS管作為目前**重要也是應用**多的分立器件產品之一,在上述很多產品上有應用。 功率因數校正(PFC),MOSFET用于提高電源系統的功率因數。
SGT技術:突破傳統MOS的性能瓶頸
MOS管(金屬氧化物半導體場效應晶體管)是開關電源、逆變器、電機控制等應用的重要開關器件。傳統平面MOS和早期溝槽MOS在追求更低導通電阻(Rds(on))和更快開關速度時,往往會面臨開關損耗(Qg,Qgd)增大、抗沖擊能力下降等矛盾。
商甲半導體采用的SGT結構技術,正是解決這一矛盾的關鍵:
屏蔽柵極結構:在傳統的柵極溝槽結構基礎上,創新性地引入了額外的“屏蔽電極”(通常是源極電位)。這一結構能有效屏蔽柵極與漏極之間的米勒電容(Cgd),大幅降低柵極電荷(Qg,特別是Qgd)。
低柵極電荷(Qg):降低Qg意味著驅動電路更容易驅動MOS管,減少開關過程中的導通和關斷損耗,提升系統整體效率,尤其在需要高頻開關的應用中優勢明顯。
優化導通電阻(Rds(on)):SGT結構通過優化載流子分布和溝道設計,在同等芯片面積下,實現了比傳統溝槽MOS更低的導通電阻,降低了導通狀態下的功率損耗和發熱。
優異的開關性能:低Qg和優化的電容特性共同帶來了更快的開關速度和更干凈的開關波形,減少了電壓/電流應力,提升了系統穩定性和EMI性能。
高可靠性:精心設計的結構有助于改善器件的雪崩耐量(Eas)和抗閂鎖能力,提高了系統在惡劣工況下的魯棒性。 商甲半導體以Fabless 模式解特殊匹配難題,多平臺量產,產品導通特性強,應用場景多元。12V至200V P MOSFET電子元器件MOSFET哪里有
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選擇MOS管的指南
評估熱性能
選定額定電流后,還需計算導通損耗。實際中,MOS管并非理想器件,導電時會產生電能損耗,即導通損耗。這一損耗與器件的導通電阻RDS(ON)相關,并隨溫度明顯變化。設計者需評估MOS管的熱性能,包括差情況下的散熱能力,同時需要考慮結溫和熱阻。
功率損耗PTRON可通過公式Iload2×RDS(ON)計算(Iload表示大直流輸出電流)。由于導通電阻受溫度影響,功率損耗也會相應變化。此外,施加的電壓VGS與RDS(ON)呈反比,即電壓越高,RDS(ON)越小;反之亦然。
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