X射線衍射儀(XRD)是一種基于X射線與晶體材料相互作用原理的分析儀器,通過測量衍射角與衍射強度,獲得材料的晶體結構、物相組成、晶粒尺寸、應力狀態等信息。
電子與半導體工業:薄膜與器件材料的分析在半導體和電子器件制造中,XRD用于分析薄膜材料的晶體質量、厚度和應力。例如,在硅基半導體行業,XRD可測量外延層的晶格匹配度,減少缺陷。在第三代半導體(如GaN、SiC)研究中,XRD可分析位錯密度,提高器件性能。此外,XRD還可用于LED、太陽能電池等光電器件的材料表征,優化能帶結構設計。 支持太空材料的研究。便攜式小型X射線衍射儀應用于全巖礦物成分分析
XRD可與其他表征技術聯用,提供更***的材料信息:XRD + XPS:表面化學狀態分析(如催化劑活性位點氧化態)。XRD + SEM/TEM:形貌與晶體結構關聯(如納米顆粒的尺寸-活性關系)。XRD + Raman/FTIR:局域結構及化學鍵分析(如碳材料缺陷表征)。
XRD在催化劑和電池材料研究中發揮著不可替代的作用:催化劑領域:優化活性相、提高穩定性、指導載體選擇。電池領域:揭示結構-性能關系、監測相變、改進電極材料設計。未來趨勢:高分辨率XRD:更精確的晶體結構解析(如無序材料、納米晶)。原位/operando XRD:實時監測催化反應或電池充放電過程。AI輔助分析:結合機器學習進行快速物相識別與結構預測。 便攜式小型X射線衍射儀應用于全巖礦物成分分析評估存儲材料的相變特性。
X射線衍射在考古與文化遺產保護中的應用:文物材料鑒定與工藝研究
古代工藝技術***(1)燒制工藝重建陶器燒成溫度推定:高嶺石→偏高嶺石→莫來石的轉變序列(新石器時代陶器約800-1000℃)。原始瓷釉析晶:鈣長石(CaAl?Si?O?)晶體證實商代草木灰釉技術。(2)冶金技術研究青銅范鑄vs.失蠟法:枝晶偏析相的XRD半定量分析(西周青銅爵的Cu?Sn?含量梯度)。鋼鐵熱處理:檢測漢代環首刀中的殘余奧氏體(淬火工藝證據)。(3)有機-無機復合材料骨器/象牙處理:羥基磷灰石(Ca??(PO?)?(OH)?)晶粒尺寸反映脫脂工藝。漆器填料:漢代漆盒中石英(SiO?)與方解石(CaCO?)填料比例分析。
X射線衍射在考古與文化遺產保護中的應用:文物材料鑒定與工藝研究
文物材料鑒定與溯源(1)陶瓷與釉料分析胎體成分鑒定:區分高嶺土、伊利石等黏土礦物,追溯原料產地(如中國景德鎮瓷石vs. 歐洲高嶺土)。典型案例:通過石英/莫來石比例判定青白瓷燒成溫度(宋代約1200-1300℃)。釉層物相解析:檢測析晶相(如硅灰石CaSiO?)揭示釉料配方(如唐三彩鉛釉的PbSiO?特征峰)。鑒別仿古釉與現代合成顏料(如鈷藍CoAl?O? vs. 古代鈷料中的As雜質)。(2)金屬文物研究合金相組成:青銅器的α相(Cu-Sn固溶體)與δ相(Cu??Sn?)比例反映鑄造工藝。鐵器銹蝕產物鑒別(磁鐵礦Fe?O? vs. 針鐵礦α-FeOOH)。表面處理技術:檢測"黑漆古"銅鏡表面的SnO?晶體(人工硫化處理證據)。(3)古代顏料與壁畫礦物顏料庫建立:朱砂(HgS)、石青(2CuCO?·Cu(OH)?)、雌黃(As?S?)等特征衍射峰數據庫。案例:敦煌壁畫中氯銅礦(Cu?(OH)?Cl)的發現揭示唐代綠色顏料配方。老化機理研究:白堊(CaCO?)→石膏(CaSO?·2H?O)的相變指示環境酸化侵蝕。 汽車涂層結晶度質量檢測。
X射線衍射儀在制藥行業中的應用:藥物多晶型研究與質量控制
X射線衍射(XRD)技術是制藥行業藥物研發和質量控制的**分析手段之一。藥物活性成分(API)的多晶型現象(同一化合物存在不同晶體結構)直接影響藥物的溶解度、穩定性、生物利用度及生產工藝。XRD能夠快速、準確地鑒定藥物晶型,確保藥品質量符合監管要求(如ICH、USP、EP)。
藥物多晶型研究(1)多晶型的發現與表征晶型篩選:通過XRD建立晶型庫,區分不同晶型(如無水晶型、水合物、溶劑化物)。示例:利托那韋(Ritonavir)因未檢測到新晶型(Form II)導致藥品失效,損失超2.5億美元。布洛芬(Ibuprofen)存在多種晶型,其中Form I和Form II的溶解性差異***。結構解析:結合單晶XRD(SCXRD)確定晶胞參數、分子堆積方式(如氫鍵網絡)。 檢測工業固廢危險成分。便攜式小型X射線衍射儀應用于全巖礦物成分分析
識別石棉等危險礦物。便攜式小型X射線衍射儀應用于全巖礦物成分分析
小型臺式多晶X射線衍射儀(XRD)在超導材料精細結構分析中的應用雖面臨挑戰(如弱信號、復雜相組成),但通過針對性優化,仍可為其合成、相純度和結構演化研究提供關鍵數據支持。
MgB?及其他常規超導體關鍵問題:雜質相檢測:合成中易生成MgO(衍射峰與MgB?部分重疊)。碳摻雜效應:C替代B導致晶格收縮(a軸變化)。解決方案:Kα?剝離:軟件去除Kα?峰干擾,提高峰位精度。納米尺度分析:Scherrer公式估算晶粒尺寸(影響磁通釘扎)。(4)新型超導材料探索(如氫化物、拓撲超導體)應用場景:高壓合成產物:檢測微量超導相(如H?S的立方相)。拓撲絕緣體復合:Bi?Se?/超導異質結的界面應變分析。限制:臺式XRD難以實現高壓原位測試(需金剛石對頂砧附件)。 便攜式小型X射線衍射儀應用于全巖礦物成分分析